高精度偏光制御/測定モジュールPCM-100は、高精度かつ安定な光学試験のために設計された最新鋭の偏光制御/測定装置です。4軸無損失偏光コントローラとデュアル対数光パワーメータを搭載し、PDL(偏光依存性損失)・DOP(偏光度)・リアルタイムの偏光安定性を測定するための多用途のプラットフォームを提供します。PCM-100は、高度な光学システムを駆使するR&D、製造試験、現場設備において不可欠な高精度の偏光制御および偏光測定を実現します。
■特徴1. 無損失偏光コントローラ・超低挿入損失(< 0.01 dB) 2. デュアル対数光パワーメータ・シームレス(利得切替なし)に80 dBを超えるダイナミックレンジを実現 3. インテリジェント測定&安定化・独自のアルゴリズムによるリアルタイムなPDL&DOPの解析を実現 ■用途・高速PDL測定
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■仕様
偏光コントローラ | |
動作波長 | 1260 ~ 1650 nm or 1060 nm |
入出力光ファイバ | SMF-28相当 or HI1060相当 |
挿入損失(コネクタ損を除く) | 0.01 dB (typ) @ 1550 nm or 1310 nm |
反射減衰量 | > 55 dB (コネクタ反射を除く) |
最大入射光パワー | 20 dBm |
Vπ | 60 V (typ) |
PDL(偏光依存損失) | 0.01 dB (typ) |
Activation Loss | < 0.01 dB |
応答時間 | 50 ms (typ) vs Vp change |
対数光パワーメータ | |
動作波長 | 900 nm ~ 1650 nm |
光パワー測定範囲 | -75 dBm ~ 10 dBm |
リニアリティ | ±0.1 dB from 10 ~ -55 dBm ±0.2 dB form -55 ~ -75 dBm |
応答時間 | 100 ms (typ) @ -55 ~ 10 dBm |
入力光 | シングルモードファイバ入力 または 空間入力 |
偏光制御/測定 | |
パワートラッキング時間(max) | < 2 ms、< 1 ms (typ) |
Minimum Finding Tracking Time | < 5 ms、< 1 ms (typ) @ PDL < 3 dB |
PDL測定時間 | < 10 ms、< 2 ms (typ) @ PDL < 3 dB |
ランダム偏光スクランブル速度(max) | 20 k points/s |
ランダムスクランブル時のDOP(偏光度) | < 2.5% (typ) @ 積分時間10 ms 、スクランブル速度 201 points/s |
電気インターフェース | |
イネーブル/ディスエーブル | LVTTL or TTL |
アナログ入出力電圧 | 0 ~ 3 V |
Sync型デジタルI/O | TTL |
通信ポート | Full-speed USB and UART |
その他 | |
動作温度 | 5 ~ 50°C |
保管温度 | −20 ~ 70°C |
電源 | +9 ~ +15 VDC /3A (モジュール) 100 ~ 240 VAC (装置) |
サイズ | 220 mm x 125 mm x 51.5 mm |
注記:
・数値はコネクタなしで評価した値
・温度23℃で規定
■構成例
■注文方法
PCM-①-②-③-④
① | デバイス構成 | 100: モジュールタイプ 1000: 装置タイプ 2xx: カスタム |
② | 波長 | 10: 1060 nm 35: 1310 nm & 1550 nm |
③ | 入力コネクタ | FP: FC/PC(シングルモード) FA: FC/APC(シングルモード) その他 |
④ | 出力コネクタ | FP: FC/PC(シングルモード) FA: FC/APC(シングルモード) その他 |
Rev. 1.0 (2025.3.15)