■製品名：ビームプロファイラ

Ophir社のビームプラファイラにはカメラ式とスリット式があります。

カメラ式ビームプロファイラは、
カメラ本体、ビームプロファイラのソフトウェア、減光用アクセサリで構成されています。オフィール・スピリコンでは業界一の豊富なラインナップでカメラセンサをご用意しており、13nmの遠紫外から3000µmのEUVまで対応可能です。ほとんどの波長域でUSBおよびFireWireインターフェースが利用可能で、ノートパソコンまたはデスクトップでもご使用頂けます。

スリット式ビームプロファイラでは、
フォトディテクタの前にある細いスリットがビームを通過するように回転します。スリットを通過しディテクタに当たった光のエネルギーは電流に変換されます。スリットスキャナは、ほとんど減衰なしで測定できますので、加工用レーザの計測に最適です。波長が10.6μmのCO₂レーザは広く加工に用いられますが、カメラによる計測は不可能です。したがって、スリットスキャナは1kＷまでのCO₂レーザの計測に非常に便利です。

外観	製品名/概要
カメラ式ビームプロファイラ
	ビームゲージソフトウエア対応ビームプロファイラカメラカメラにはビームゲージソフトウェアが付属しリアルタイムでレーザビームのプロファイルに対応します。高性能カメラに加え、数多くのISO規格に準拠した測定、業界一のアルゴリズムを誇るUltracal補正機能（特許取得済み）など優れた機能を兼ね揃えたビームゲージアプリケーションにより高精度の測定が可能です。
	高解像度パイロエレクトリックカメラ：PyrocamⅢHR/PyrocamⅣ Pyrocam/パイロカムシリーズはレーザビームプロファイル計測用のカメラで、波長帯域13nm-355nm、1.06-3000um、ブロードバンドアレイ、ワイドダイナミックレンジ、高速データキャプチャレート、CW及びパルスレーザ対応、NIRレーザ、CO₂レーザ、THz光源対応。
	ベーシック・ビームアナライザシステム：BeamMic™ BeamMicは、簡易性を追求した基本的なビームプロファイル計測を実現します。ビーム径、均一性、出力による影響など、ビームモードの精度がアプリケーションの精度に大きな影響を及ぼします。レーザビームをより正確に解析し、ビームのパラメータを正確に分析することは不可欠です。
	高出力CO2レーザ用・簡易ビームモード計測システム：ModeCheck ModeCheckは高出力CO₂レーザ用・簡易ビームモード計測システム。最大測定出力5kWまでの工業用CO₂レーザビームモード解析用可搬型ビームプロファイラ。従来の危険な確認方法（アクリル板にレーザを照射して蒸発させバーンパターンからビーム強度分布を目視で確認する方法）に代わり、ModeCheckにレーザを入射するだけでリアルタイムでビームモードを確認。
	高出力ディスク&ファイバレーザ測定非接触ビームプロファイラ：BeamWatch BeamWatch非接触ビームモニタリングシステムは、kWクラスの高出力ディスク・ファイバレーザ（波長帯域980-1080nm）のビームプロファイル計測に対応。レイリー散乱の信号を計測。レーザ光は機構や光の特性に影響を与えることなく直接システム内部を通過し計測。数kWクラスの工業用高出力レーザビームプロファイル計測に最適。
	ビームキューブ：BeamCube BeamCubeは工業用高出力パルスNd : YAGレーザ、ダイオードレーザ、ファイバレーザ専用のレーザビーム計測装置です。減衰光学系、ビームプロファイラ、パワーメータを本体に内蔵しているので可搬性に優れ、1台のみで重要なレーザビームのパラメータをコンピュータ画面上にて全てモニタすることを実現しました。
	高出力CO₂レーザ用ビームプロファイラ・キット：LPK-CO2 LPK-CO2 にはA/Rコート付き反射ウェッジ、CaF₂フィルタ、ビーム径を小さくするためのテレスコープ、ギガビット・イーサーネット対応のパイロカムカメラ、BeamGageビームゲージソフトウェア・スタンダード版が含まれます。キットは水平方向のビームや下方に向かうビームの計測が行えるように設計されており、生ビームの特性や安定性が測定できます。
	M²ビーム品質測定システム：BeamSquared ・1分以下で自動ビーム品質測定を実現・レーザビーム品質を高品質に調整・ISO準拠のM2値が手軽に測定可能・簡易操作にて定期的な計測が容易に可能・比類ないUltracalTMベースライン補正機能
スリット式ビームプロファイラ
	ナノスキャンシリーズ：NanoScanTM NanoScanTMは、スリットスキャン式のレーザビームプロファイラです。NanoScanシステムはスリットスキャン式の優位性としてサブミクロンの測定精度、シリコン、ゲルマニウム、パイロエレクトリックディテクタを採用しており広波長範囲に対応しています。ソフトウェアは数多くのISO規格に準拠した測定に対応、M2 Wizard機能搭載、レーザ出力測定も可能です。
	ハイパワーナノスキャン：High Power NanoScan ・5kWまでの集光CO₂レーザビームの計測・パルス幅変調(PWM)レーザの計測に最適・Qスイッチレーザやその他の高繰返しパルスレーザの計測
	スリットスキャンM²計測プロファイラ：NanoModeScan NanoModeScanはM²測定用スリット式ビームプロファイルシステム。シリコン、ゲルマニウム、パイロエレクトリックディテクタをご用意、波長帯域UV-FIRに対応。可搬性に優れたコンパクト設計、迅速な計測、ISO準拠の数多くの計測、CWまたはkHzまでのパルスレーザ、幅広い種類のレーザ計測に対応。
アクセサリー
	NDフィルタレーザビームプロファイラのオプションで減衰用NDフィルタ各種取り揃えています。
	ビームスプリッタレーザビームプロファイラのオプションで減衰用ビームスプリッタを各種取り揃えています。
	ND + ビームスプリッタの組み合わせレーザビームプロファイラのオプションでNDフィルタとビームスプリッタの組み合わせを各種取り揃えています。
	ビームエキスパンダとマイクロスコープの組み合わせ小口径ビームをイメージングする時に分解能となりますが、ビームエキスパンダとマイクロスコープでビームサイズを大きくしてより高精度なビームプロファイルが可能です。
	ビームリデューサ大口径ビームをイメージングする時にイメージャよりもビームが大きい場合、ビームリデューサでビームサイズを小さくしてより高精度なビームプロファイルが可能です。
	フロントエンドイメージング及びスペーサ用レンズビーム径が大きすぎて従来の直接入射やサンプリングの方法で測定できない場合、イメージャの正面後ろにイメージングレンズを固定してビームが投影される面まで集光点を調整します。
	UVレーザ用イメージコンバータ UV光をVIS光に変換用コンバータをご用意しています
	NFP:ニアフィールドプロファイラ NFP:ニアフィールドプロファイラはCCDプロファイラとスリット式スキャニングカメラ両方で使用可能で極小ビームをプロファイル可能。ディテクタアレイのピクセルサイズのために測定できない極小ビームを拡大します。
	オプティカルカメラトリガオプティカルカメラトリガはトリガ機能オプションで、カメラ本体に設定して外部オプティカルトリガでパルスに同期します。オプティカルカメラトリガシステムの構成はオプティカルカメラトリガ本体とオプションのC-マウントアダプタ

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